AI芯片零容错时代,光检测卡位先进封装

来源:爱集微 #光检测#
1688

日益昂贵的 AI 芯片,任何微小瑕疵,都可能造成上千万成本的损失;在“一颗都不能坏”的压力下,半导体产业正引爆前所未有的“百百检”商机。尤其当先进封装愈来愈重要,光检测市场迎来新机遇。 

虽然AI 需求远超预期、产能全面告急;但台积电董事长魏哲家日前在法说会上霸气直言:“我们不打算给别人机会。”台积电决在 3 纳米制程破天荒扩产,更在先进封装领域加大 CoWoS 产能,甚至首度揭露导入面板级封装,一路防堵英特尔、三星的渗透。

魏哲家这份宣示的背后,其实有一群几乎隐形的光检测厂,正悄悄地从封装制程卡进产业缝隙,突破长期由科磊(KLA)长期盘踞的版图。 

根据外资估计,台积电 CoWoS 产能将从 2023 年的 11.8 万片,大幅增加到 2028 年的 298.8 万片;这股动能,直接引爆制程设备大需求。而全球半导体检测设备市场,未来 5 年年均复合成长率为 9.86%;其中,AI 带动的半导体检测设备,5 年来复合成长率超过 16%,明显高于整体需求。 

中国台湾地区CoWoS 光罩检测设备商由田科技总经理张文杰指出:“现在一颗英伟达最基本款 AI 芯片,制造过程都得经过 400至500 道程序,高阶芯片更是上千道;好不容易前段晶圆良率稳定,若在封装环节,因为一粒微尘或一丝污染导致报废,损失的可是数万美元的成品价值。”他强调,AI 芯片制造成本愈来愈高,这种“一颗都不能坏”的压力,在先进封装阶段愈来愈重要。 

光学设备大厂蔡司市场经理林坤兴指出,前段晶圆制造多半是以整片良率计算,只要整体达到一定标准,少数不良晶粒仍在可接受范围;但到了封装阶段,每一颗芯片都是最终产品,自然无法容忍任何瑕疵。随着封装结构日益复杂,后段对质量的要求转向逐颗把关,导致全检需求快速升温,检测技术门槛同步提高。 

由于 AI 芯片开发成本极高,到了封装阶段,每一颗都必须是好的。为此,通过光学镜头或高倍显微镜的自动光学检测(AOI)检查,揪出纳米级缺陷或量测极小间距偏差,正加速取代人眼搭配显微镜,成为半导体检测市场主流。 

对检测设备业者而言,一旦成功打入供应链,便能随产能扩张同步放量,并透过后续软件升级、参数调校与维运,持续创造高利润服务收入。

责编: 张轶群
来源:爱集微 #光检测#
THE END

*此内容为集微网原创,著作权归集微网所有,爱集微,爱原创

关闭
加载

PDF 加载中...