泽丰ICCAD2023圆满落幕

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11月10-11日,第29届中国集成电路设计业2023年会(ICCAD 2023)在广州保利世贸博览馆成功举办,泽丰在ICCAD的首秀圆满落幕。

泽丰在本次ICCAD展出了陶瓷封装解决方案和测试解决方案,带来了最新的陶瓷封装基板,适用于CP测试的SoC探针卡存储探针卡,以及适用FT测试的Load Board,展现了泽丰对于先进封装的底层材料的理解,以及对于大/小芯片测试方案高屋建瓴的认知。

“十年一剑,闪亮登场”,泽丰两张存储探针卡一经首次公开亮相,即引起观众的浓厚兴趣,众多观众前来咨询存储探针卡,现场展出的所有探针卡均采用泽丰自研2D3D探针,每根针均拥有高达百万次使用寿命,配套泽丰自研MLC,其尺寸最大可达12吋,充分满足高效晶圆测试的需求。MLC+垂直探针的先进组合,将使传统需要CPC测试的芯片拥有成本更低速度更快效率更高的测试方式,而为整片晶圆测试而生的存储探针卡,更是大放异彩。

董事长罗雄科先生于11月11日在ICCAD现场进行了“以创新技术助力半导体封装和测试”的主题演讲,吸引了众多封测行业的嘉宾。罗雄科先生结合高线密度基板uBump技术,对先进陶瓷封装的应用进行了深入浅出的讲解,随后又以CIS探针卡测试为例,阐述了泽丰搭载最新CIS探针卡的测试解决方案。会后引发了众多讨论,也吸引了会议现场观众前往泽丰展台的参观。

责编: 爱集微
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