锐石创芯“射频芯片测试系统”专利获授权

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集微网消息,天眼查显示,锐石创芯(深圳)科技股份有限公司“射频芯片测试系统”专利获授权,授权公告日为10月20日,授权公告号为CN219871656U。

图片来源:天眼查

专利摘要显示,本实用新型公开了一种射频芯片测试系统,其包括测试信号输入端、第一测试模块、测试板、控制模块、第二测试模块和测试信号输出端,通过控制模块控制第一测试模块和第二测试模块切换到对应的前级测试通道和后级测试通道,利用第一测试模块中的多条前级测试通道和第二测试模块中的多条后级测试通道替代人工手动更换射频线选择测试端的操作,提高了测试效率及测试稳定性。

据悉,该专利提供了一种射频芯片测试系统,旨在解决现有测试链路测试效率较低及测试稳定性较差的问题。(校对/刘沁宇)

责编: 刘沁宇
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