胜科纳米“一种芯片缺陷区域确定方法、装置、设备及存储介质”专利公布

作者：爱集微

2024-11-14

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天眼查显示，胜科纳米（苏州）股份有限公司“一种芯片缺陷区域确定方法、装置、设备及存储介质”专利公布，申请公布日为2024年10月11日，申请公布号为CN118762014A。

本发明公开了一种芯片缺陷区域确定方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：获取目标芯片对应的原始芯片图像；将原始芯片图像进行排列方向检测，确定图像切割方向，并将原始芯片图像进行分割处理，获得第一分割图像；基于图像切割方向的相互垂直方向，将第一分割图像进行像素值统计处理，获得分割投影图像；根据分割投影图像，确定估计周期长度，并基于估计周期长度，将第一分割图像进行裁剪处理，获得第二分割图像。将当前第二分割图像与其他第二分割图像进行对比，确定存在缺陷的目标第二分割图像，进而确定目标芯片的缺陷位置，以准确确定芯片缺陷区域。该方法无需人工参与，降低人工成本，同时可以提升缺陷区域的检测效率。